ELx808

カイネティック マイクロプレートリーダー

干渉フィルタータイプ
カイネティック
ELx808 標準モデル
ELx808IU UV インキュベーターモデル
PCコントロールモデル
EL808-PC 標準モデル
EL808IU-PC UV インキュベーターモデル
干渉フィルター
多彩な光学干渉フィルターにより様々なアッセイに対応可能
測定プレート
96Wellでの測定に特化し、ELISA測定に最適です。
温度コントロール・シェイキング(IUモデル)
BIO-TEK社独自の4-Zone温度コントロール方式で50℃までの制御が可能
強度3段階+ランダムのシェイキング機能も搭載
オンボードソフトウエア
装置のコントロール、カーブフィット、数式、データ変換、データのバリデーションなどを全て内蔵ソフトウエアにアッセイプロトコールとして組み、75種類を保存できます。
PCソフトウエア
本体のコントロール及びデータ解析を行うソフトウエア”KC4 for Windowsに対応(オプション)
21 CFR Part 11対応のKC4 Signature for Windowsへアップグレード可能(オプション)
カイネティクス測定
最短5秒間隔での繰り返し測定により、高度なカイネティック分析が可能
エンドポイント測定
最速12秒(1波長)、20秒(2波長)で測定可能
ウェルエリアスキャンニング
ウェル毎に31ポイントの吸光度を読み取るウェルエリアスキャン
バリデーションチェック
オプションのキャリブレーションテストプレートにより装置の正確性、直線性、再現性のチェックが可能。
また、電源投入時と測定開始直前に電気的、光学的自己診断を実施
多彩な光学干渉フィルターにより様々なアッセイに対応可能
測定プレート
96Wellでの測定に特化し、ELISA測定に最適です。
温度コントロール・シェイキング(IUモデル)
BIO-TEK社独自の4-Zone温度コントロール方式で50℃までの制御が可能
強度3段階+ランダムのシェイキング機能も搭載
オンボードソフトウエア
装置のコントロール、カーブフィット、数式、データ変換、データのバリデーションなどを全て内蔵ソフトウエアにアッセイプロトコールとして組み、75種類を保存できます。
PCソフトウエア
本体のコントロール及びデータ解析を行うソフトウエア”KC4 for Windowsに対応(オプション)
21 CFR Part 11対応のKC4 Signature for Windowsへアップグレード可能(オプション)
カイネティクス測定
最短5秒間隔での繰り返し測定により、高度なカイネティック分析が可能
エンドポイント測定
最速12秒(1波長)、20秒(2波長)で測定可能
ウェルエリアスキャンニング
ウェル毎に31ポイントの吸光度を読み取るウェルエリアスキャン
バリデーションチェック
オプションのキャリブレーションテストプレートにより装置の正確性、直線性、再現性のチェックが可能。
また、電源投入時と測定開始直前に電気的、光学的自己診断を実施
モデル | ELx808 |
測定可能波長範囲 | 380~900nm |
吸光度範囲 | 0~4.000Abs. |
測定可能マイクロプレート | 96ウェル |
測定速度 | エンドポイント最短8秒(1波長) カイネティック最短6秒間隔 |
温度コントロール | なし |
シェイキング | 3段階+ランダム、時間設定自由 |
付属ソフトウェア | - |
モデル | ELx808IU |
測定可能波長範囲 | 340~900nm |
吸光度範囲 | 0~4.000Abs. |
測定可能マイクロプレート | 96ウェル |
測定速度 | エンドポイント最短8秒(1波長) カイネティック最短6秒間隔 |
温度コントロール | 室温+4~50℃ |
シェイキング | 3段階+ランダム、時間設定自由 |
付属ソフトウェア | - |
モデル | EL808IU-PC |
測定可能波長範囲 | 340~900nm |
吸光度範囲 | 0~4.000Abs. |
測定可能マイクロプレート | 96ウェル |
測定速度 | エンドポイント最短8秒(1波長) カイネティック最短6秒間隔 |
温度コントロール | 室温+4~50℃ |
シェイキング | 3段階+ランダム、時間設定自由 |
付属ソフトウェア | Gen5 for Windows |
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