ELx800
ユニバーサル マイクロプレートリーダー
吸光 マイクロプレートリーダー干渉フィルタータイプ
ユニバーサルプレート
ELx800 標準モデル
ELx800UV UVモデル
ELx800NB 384対応モデル
PCコントロールモデル
EL800-PC 標準モデル
干渉フィルター
多彩な光学干渉フィルターにより様々なアッセイに対応可能
測定プレート
標準機で24,48,96Wellプレートに対応
NBモデルでは384Wellプレートも対応
340nmでの測定
UVモデルでは340nm～からの測定に対応します。
オンボードソフトウエア
装置のコントロール、カーブフィット、数式、データ変換、データのバリデーションなどを全て内蔵ソフトウエアにアッセイプロトコールとして組み、75種類を保存できます。
PCソフトウエア
本体のコントロール及びデータ解析を行うソフトウエア”Gen5 for Windowsに対応(オプション)
21 CFR Part 11対応のGen5 Secure for Windowsへアップグレード可能(オプション)
バリデーションチェック
オプションのキャリブレーションテストプレートにより装置の正確性、直線性、再現性のチェックが可能。
また、電源投入時と測定開始直前に電気的、光学的自己診断を実施
多彩な光学干渉フィルターにより様々なアッセイに対応可能
測定プレート
標準機で24,48,96Wellプレートに対応
NBモデルでは384Wellプレートも対応
340nmでの測定
UVモデルでは340nm～からの測定に対応します。
オンボードソフトウエア
装置のコントロール、カーブフィット、数式、データ変換、データのバリデーションなどを全て内蔵ソフトウエアにアッセイプロトコールとして組み、75種類を保存できます。
PCソフトウエア
本体のコントロール及びデータ解析を行うソフトウエア”Gen5 for Windowsに対応(オプション)
21 CFR Part 11対応のGen5 Secure for Windowsへアップグレード可能(オプション)
バリデーションチェック
オプションのキャリブレーションテストプレートにより装置の正確性、直線性、再現性のチェックが可能。
また、電源投入時と測定開始直前に電気的、光学的自己診断を実施
| モデル | Elx800 |
| 測定可能波長範囲 | 400～750nm |
| 吸光度範囲 | 0～4.000Abs. |
| 測定可能マイクロプレート | 6～96ウェル |
| 測定速度 | エンドポイント最短30秒(96ウェル) |
| 温度コントロール | なし |
| シェイキング | なし |
| 付属ソフトウェア | - |
| モデル | ELx800UV |
| 測定可能波長範囲 | 340～750nm |
| 吸光度範囲 | 0～4.000Abs. |
| 測定可能マイクロプレート | 6～96ウェル |
| 測定速度 | エンドポイント最短30秒(96ウェル) |
| 温度コントロール | なし |
| シェイキング | なし |
| 付属ソフトウェア | - |
| モデル | ELx800NB |
| 測定可能波長範囲 | 400～750nm |
| 吸光度範囲 | 0～4.000Abs. |
| 測定可能マイクロプレート | 6～384ウェル テラサキプレート |
| 測定速度 | エンドポイント最短30秒(96ウェル) |
| 温度コントロール | なし |
| シェイキング | なし |
| 付属ソフトウェア | - |
| モデル | EL800-PC |
| 測定可能波長範囲 | 400～750nm |
| 吸光度範囲 | 0～4.000Abs. |
| 測定可能マイクロプレート | 6～96ウェル |
| 測定速度 | エンドポイント最短30秒(96ウェル) |
| 温度コントロール | なし |
| シェイキング | なし |
| 付属ソフトウェア | Gen5 ELISA |
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