蛍光 吸光 発光 マイクロプレートリーダー　ELx800｜株式会社セントラル科学貿易

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800TSシリーズ

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マイクロプレートリーダー

image吸光 マイクロプレートリーダー
干渉フィルタータイプ
マルチプレート対応
800TS-SN       標準モデル
800TSI-SN      インキュベーションモデル
800TSUV-SN   UV対応モデル
800TSUVI-SN  UV対応インキュベーションモデル
800TSNB-SN   384-well対応モデル
干渉フィルター
多彩な光学干渉フィルターにより様々なアッセイに対応可能
測定プレート
6, 12, 24, 48, 96-wellプレートに対応
NBモデルでは384Wellプレートも対応
340nmでの測定
UVモデルでは340nmからの測定に対応します。
カラータッチパネル
波長の設定やシェイキングの設定等をしやすく，また測定結果の表示が可能な4.3"カラータッチパネルを採用しました。
PCソフトウエア
本体のコントロールおよびデータ解析を行うソフトウエア”Gen6 for Windows"が標準付属しています。
Gen5 for Windowsや21 CFR Part 11対応のGen5 Secure for Windowsへ変更可能です。
バリデーションチェック
オプションの吸光テストテストプレートにより装置の正確性，直線性，再現性のチェックが可能です。
また，電源投入時と測定開始直前に電気的，光学的自己診断を実施しています。
モデル 800TS-SN
測定可能波長範囲 400～750nm
吸光度範囲 0～4.000Abs.
測定可能マイクロプレート 6-, 12-, 24-, 48-, 96-well
測定速度 96-wellノーマルモード: 30秒
96-wellスイープモード: 11秒
温度コントロール なし
シェイキング 直線
付属ソフトウェア Gen6 for Windows
(Gen5 for Windowsへ変更可能)
モデル 800TSI-SN
測定可能波長範囲 340～750nm
吸光度範囲 0～4.000Abs.
測定可能マイクロプレート 6-, 12-, 24-, 48-, 96-well
測定速度 96-wellノーマルモード: 30秒
96-wellスイープモード: 11秒
温度コントロール 室温+6～50℃
シェイキング 直線
付属ソフトウェア Gen6 for Windows
(Gen5 for Windowsへ変更可能)
モデル 800TSUV-SN
測定可能波長範囲 340～750nm
吸光度範囲 0～4.000Abs.
測定可能マイクロプレート 6-, 12-, 24-, 48-, 96-well
測定速度 96-wellノーマルモード: 30秒
96-wellスイープモード: 11秒
温度コントロール なし
シェイキング 直線
付属ソフトウェア Gen6 for Windows
(Gen5 for Windowsへ変更可能)
モデル 800TSUVI-SN
測定可能波長範囲 340～750nm
吸光度範囲 0～4.000Abs.
測定可能マイクロプレート 6-, 12-, 24-, 48-, 96-well
測定速度 96-wellノーマルモード: 30秒
96-wellスイープモード: 11秒
温度コントロール 室温+8～50℃
シェイキング 直線
付属ソフトウェア Gen6 for Windows
(Gen5 for Windowsへ変更可能)
モデル 800TSNB-SN
測定可能波長範囲 400～750nm
吸光度範囲 0～4.000Abs.
測定可能マイクロプレート 6-, 12-, 24-, 48-, 96-well,
384-well, テラサキプレート
測定速度 96-wellノーマルモード: 30秒
96-wellスイープモード: 11秒
温度コントロール なし
シェイキング なし
付属ソフトウェア Gen6 for Windows
(Gen5 for Windowsへ変更可能)

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